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  3. 底铜的蚀刻

底铜的蚀刻

半加成法 形成线路<SAP>用药水

下面分别介绍特别适用于去除SAP工艺的铜、Ti种子层的蚀刻剂。
可将侧蚀及线路变细的发生控制在最低限度,形成良好的精细线路。

MECBRITE QE-7300

属于硫酸-双氧水系去除底铜用快速蚀刻剂。

MECBRITE QE-7300的特点
  • 将线宽的减少控制在最低限度。
  • 可获得侧蚀较少的良好的图形形状。
  • 可将铜表面的粗化控制在最低限度,保持平滑的铜表面。
  • 属于添加剂型,故可根据生产率的情况调整蚀刻速度。
  • 耐氯性高,蚀刻速度稳定。
线路形成示例
未经处理 パターン形状例 No treatment
传统的 1.0μm パターン形状例 No treatment
QE 系列 1.0μm パターン形状例 QE 系列 1.0μm
  • L/S=10/10μm, 底层:化学沉铜 0.5μm,
表面形貌
未经处理 表面形状 No treatment
传统的 1.0μm 表面形状 传统的 1.0μm
QE 系列 1.0μm 表面形状 QE 系列 1.0μm
  • 我们的电解板

MEC REMOVER QT-1100

一种基于硫酸的快速蚀刻剂,用于去除钛种子层。

MEC REMOVER QT-1100的特点
  • 对铜的影响小,将线宽的减少与侧蚀控制在最低限度。
  • 不含氢氟酸、氨、过氧化氢,因此药水稳定性良好。
  • 通过浸泡处理,可在60秒以内去除50nm的Ti种子层。
线路形成示例
未经处理 パターン形状例 No treatment
Cu种子层蚀刻后
(QE 系列)
パターン形状例 Cu籽晶蚀刻后 (QE 系列)
Ti种子层蚀刻后
(QT-1100)
パターン形状例 After
  • 种子层:溅射铜150 nm / To 50 nm,L/S=3/3μm

半加成法 形成线路<M-SAP>用药水

下面介绍特别适用于去除M-SAP工艺底铜的蚀刻剂。
可将侧蚀及线路变细的发生控制在最低限度,形成良好的精细线路。

MECBRITE CI-7200

属于硫酸-双氧水系去除底铜用蚀刻剂。

MECBRITE CI-7200的特点
  • 可获得侧蚀较少的良好的图形形状。
  • 铜箔锚栓部分的蚀刻性出色,将线宽的减少控制在最低限度。
  • 可作为SAP工艺、M-SAP工艺的底铜去除剂使用。
  • 属于添加剂型,故可根据生产率的情况调整蚀刻速度。
处理工序
  • CI-7220系列药水 30°C(标淮)、喷淋处理
    处理时间40-60秒(标准)
  • 水洗
  • 后处理 3-5%NaOH、室温、喷淋处理
    处理时间20秒(标准)
  • 水洗
  • 烘干
  • 以 CI-7220 为例
线路形成示例
未经处理 配線形成例 処理前
传统的 配線形成例 传统的
CI 系列 配線形成例 CI 系列
  • 50μm间距种子层; 铜箔3μm+无电解铜1μm

钯催化剂残渣 去除用药水

MEC REMOVER PJ-9720

属于盐酸系Pd催化剂残渣去除药水。特别适用于在SAP工艺中去除绝缘树脂上残留的Pd催化剂残渣。

MEC REMOVER PJ-9720的特点
  • 几乎不损害导体图形,有选择地去除Pd催化剂。
  • 提高绝缘信赖性。
  • 抑制化镍的异常析出。
  • 浸泡处理、喷淋处理方式皆可使用。
  • 可在比较低的温度(25~40℃)下使用。
  • 可自动管理补充。
确认树脂上有无化镍的析出
无PJ-9720处理 有PJ-9720处理
未经处理 PJ9720
  • 布线间距10μm
处理时间与Pd检测强度的关系(35℃喷淋)
処理時間とPd検出強度の関係(40℃スプレー)のグラフ
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我们将根据客户的需求推荐最佳产品。

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